加入星计划,您可以享受以下权益:

  • 创作内容快速变现
  • 行业影响力扩散
  • 作品版权保护
  • 300W+ 专业用户
  • 1.5W+ 优质创作者
  • 5000+ 长期合作伙伴
立即加入
  • 正文
  • 推荐器件
  • 相关推荐
  • 电子产业图谱
申请入驻 产业图谱

Rohde & Schwarz公司VNA验证Samtec电缆的PCIe 6.0卓越性能

01/04 08:55
2144
阅读需 3 分钟
加入交流群
扫码加入
获取工程师必备礼包
参与热点资讯讨论

Design-Con 2023的现场产品演示展现了Samtec Flyover®高速电缆组件和Rohde & Schwarz®ZNA矢量网络分析仪的杰出PCIe 6.0性能

在本期的视频中,Rohde & Schwarz公司的VNA产品规划经理Greg Vaught和Samtec公司的技术营销经理Matt Burns带领我们完成了设置,并描述了产品和测量结果。

点击可播放视频

演示细节】

一台Rohde & Schwarz公司的ZNA 67矢量网络分析仪Samtec Si-Fly™ SI评估套件相连,在一条Eye Speed®超低Skew twinax电缆上进行差分输入和差分输出测量。

图1:Rohde & Schwarz公司的ZNA67提供了频域测量和时域概况

ZNA 67显示了插入损耗(IL)回波损耗(RL)等频域测量,频率高达 67 GHz。这两项测量都通过了PCIe 6.0规范中定义的配置文件。

在时域,我们看到一个TDR测量,帮助我们定位信号路径上的连接器和电缆过渡。睁开的眼图显示了沿Si-Fly™低剖面电缆系统的开放信号路径。(见图1)。

图2:ZNA67的去嵌功能,显示了开启和关闭的结果

Greg还讨论了ZNA的去嵌功能,显示了去嵌开启和关闭的结果(见图2)。这消除了夹具的影响,如插入损耗和反射,只显示Samtec电缆组件本身的插入损耗、回波损耗和时域结果,而没有夹具。

DUT(Device Under Test)是一个Samtec Si-Fly™ SI评估套件。它采用了Samtec Flyover® Cable技术,特别是Si-Fly连接器系统。Si-Fly™被设计成一个ASIC相邻的互连系统。它允许设计者直接断开将从ASIC到Si-Fly™的互连信号,然后使用我们的超低Skew Eye Speed® twinax电缆将高速信号--如112 Gbps PAM4,或PCIe 6.0(64 GTs)--传输到前面板或背板。

Si-Fly™是一个超低轮廓的电缆组件。它在板上只有3.8mm高,而且可以放在散热器或其他冷却硬件下面。它最多可提供16个差分对,每条通道的额定速度为112 Gbps PAM4

推荐器件

更多器件
器件型号 数量 器件厂商 器件描述 数据手册 ECAD模型 风险等级 参考价格 更多信息
175019-1 1 TE Connectivity PL EX MKII 187 REC 22-16AWG PTBR

ECAD模型

下载ECAD模型
$0.08 查看
CRCW08050000Z0EAC 1 Vishay Intertechnologies Fixed Resistor, Metal Glaze/thick Film, 0.125W, 0ohm, Surface Mount, 0805, CHIP

ECAD模型

下载ECAD模型
$0.03 查看
36152 1 TE Connectivity (36152) PIDG R 22-16 COMM 22-18 MIL 6

ECAD模型

下载ECAD模型
$0.17 查看

相关推荐

电子产业图谱