欧洲航天局利用MVG设备大幅增强新型 Hertz 2.0 测试设施灵活性

天线测量解决方案领导者Microwave Vision Group（MVG）近日宣布与欧洲航天局 (ESA) 签订两份合同，位于荷兰的欧洲航天研究和技术中心 (European Space Research and Technology Centre, ESTEC)将通过MVG天线测量技术为其新型改进射频测试设施Hertz 2.0提供补充。

Hertz 2.0将受益于大型多轴定位器，使中型和重型被测设备 (DUT) 能够在任何角度方向上进行高精度测试。MVG 与 DUT 定位器一起为紧缩场(CATR)馈源提供定位系统。

为了进一步提高 HERTZ 2.0 的测试能力，该机构还指定 MVG设计和制造大型平面近场 (PNF) 扫描仪，并提出了具有挑战性的要求——在不使用时将其隐藏在紧凑型范围系统后面。

HERTZ 2.0设施的尺寸将明显大于 HERTZ 1.0 ——长32m x 宽25m x 高18m，并将确保高精度的端到端天线和卫星测试频率范围很广——从 1 GHz 到几百 GHz。当代卫星中电子设备和天线系统的集成特性激发了这种扩展。 HERTZ 2.0将容纳一个紧凑的远场测试范围以及一个平面近场扫描仪；二合一测试室可容纳目前正在开发的最大卫星及其复杂的射频有效载荷和通信系统的测试。

暗室中的另一个二合一选项与DUT定位系统有关。该安装将允许切换两个先进的 MVG 定位子系统：一个带有翻转升降 (AZ/EL) 定位器的重型塔，负载能力高达6000公斤，将允许测试完整的卫星有效载荷和非常重的天线；一个更适合轻型DUT定位要求的中型系统，将由塔式和辊式定位器组成。

新型馈源定位器除了能够将馈源喇叭精确定位在双反射镜紧凑型范围系统的焦点之外，还具有在焦平面中扫描馈源并在静区（QZ）中将平面波传播方向移动几度的能力。

平面近场扫描仪对于精确表征至关重要的高性能高频天线特别有用。在这种情况下，为了验证太空中的全部功能，卫星有效载荷和天线系统将在专用吸波测试暗室的受控环境中进行测试。使用近场平面扫描仪的测试配置还将避免大型DUT的移动，从而优化测量效率和精度。

借助MVG 提供的解决方案，可以根据DUT的机械特性调整定位器，并在紧缩场（CATR）和平面近场（PNF）之间选择最合适的天线测量技术，从而针对特定测量活动重新配置测试设施。该测试设施还将配备 MVG 最先进的WaveStudio天线测量软件，该软件将允许数据采集、可视化和后处理，从而进一步提高测试效率。

MVG 提供的最先进的定位器和平面近场（PNF）扫描仪将在增强 欧洲航天研究和技术中心设施的测试能力方面发挥重要作用。 Hertz 2.0 注定要在电磁测试和测量方面实现无与伦比的准确性和效率，并推动欧洲卫星开发和空间应用的创新和进步。